Der dritte Teil unserer Reihe „Datenpakete effizient analysieren“ beschäftigt sich mit der Frage, wie Messdaten zuverlässig in einen Analyzer gelangen. So banal die Aufgabenstellung klingen mag - geschieht hier ein Fehler im Messaufbau, sind meist alle weiteren Analyseschritte wertlos.

Mit diesem Wissen im Hinterkopf beleuchten wir den im ersten Gedankengang plausibelsten Weg der Datenausleitung: Den Span-Port. Dabei erläutern wir, wenn denn im jeweiligen Fall möglich, wie man den Span-Port richtig benutzt.

Die aus technischer Sicht schönste Lösung stellen für Kupfer und Glas verfügbare TAPs dar. Diese zeigen wir Ihnen ausführlich.
Abgerundet wird das Webinar mit einer detaillierten Definition von Last und den Möglichkeiten, sie falsch zu interpretieren. Hier spielen Microbursts eine große Rolle.